推薦: 用於製程開發、生產控制和機器學習的尖端等離子體監控技術
Cutting-Edge Plasma Monitoring Techniques for Process Development, Production Control and Machine Learning Speaker: Dr. Thomas Schütte – PLASUS GmbH 2025/5/20
All skills related to MF, HIPIMS, Plasma Emission Monitoring and Controlling for reactive plasma
Cutting-Edge Plasma Monitoring Techniques for Process Development, Production Control and Machine Learning Speaker: Dr. Thomas Schütte – PLASUS GmbH 2025/5/20
Recently lots of requests on advanced coating configuration in HIPIMS magnetron sputtering: higher deposition rate and high coating layer quality
回顾等离子工艺使用OES (Optical Emission Spectroscopy)的历史,早在1980年代,已有不少大型的玻璃工业尝试使用OES来协助等离子工艺在量化生产的稳定性,同时,也利用OES的特殊性能开发等离子工艺能够使用的新材料。1990年初期,OES著名的代表产品称为PEM (Plasma Emission Monitor)正式在生产大楼帷幕玻璃的等离子溅射流水线上使用,从single Low-e的能源玻璃进化到更具节能效果的double Low-e规范,到了1990年末期,更应用在平面显示器的镀膜工艺上。在2000年以前发展的PEM,多半采用 窄通滤光器 NBPF (Narrow Band-Passed Filter)搭配一个极为灵敏的 光电倍增管 PMT (Photo Multiplier Tube),透过一套单晶片的处理器计算侦测讯号强度与内部设定强度的差异,将差异值输出到控制反应气体的流量单元: 早期使用的多半是一个
Wow! It’s a long time not to write an article in this blog. In the past years, a new developed