電漿溫度的量測方法
實驗模型的建立與電漿溫度量測方法的探討 歐特威科技股份有限公司湛本岱 2025.4.28 模型有一個真空製程腔體安裝了真空抽氣幫浦組合(mechanical pump+roots pump+turbo molecular pump)持續運轉下維持壓力在3 mtoor，同時使用兩支質流量計(mass flow controller)個別導入背景氣體Ar (100 sccm)與反應性氣體O2 (10 sccm)，在真空腔體側面器壁內側安裝了一支磁控濺射靶座，靶座上安裝了一塊水冷的靶材(尺寸LxWxD: 800mm x 125mm x 5mm)，靶座背面鎖死在腔體的內側，並採用高真空用的O環 (O-ring)對高壓電極導入(feedthrough)做高真空的氣密(洩漏率小於2E-9 torr)，高壓電極導入在大氣壓力側，正極與負極分別接上脈衝電源供應器的正極輸出與負極輸出，這組脈衝電源供應器可以提供800V，35A的電力，在磁控把表面產生電漿。電漿裡面的組成元素有Ar與O2。想要量測磁控濺射靶表面的Ar, O2的離子溫度與分布，請分析並提供使用破壞性量測(destructive measurement)與非破壞性量測(non-destructive measurement)這兩種量測方法的各種可能作法。 思路邏輯分析針對這個特定的磁控濺射腔體製程環境下，量測Ar$^+$和O$_2^+離子的溫度與分佈，考量到腔體結構、氣體種類、以及靶材尺寸等因素，以下分析破壞性與非破壞性量測方法的可能作法、優缺點與實施上的挑戰。∗∗重要考量因素：∗∗1.∗∗磁控濺射電漿特性：∗∗電漿密度高、非均勻性強，特別是在靶材表面附近有強烈的磁場梯度。2.∗∗靶材尺寸與位置：∗∗800mmx125mm的大尺寸靶材固定在腔壁，限制了腔內可用的空間，也使得探針或光學路徑的進入和掃描變得困難。3.∗∗反應性氣體(O2)：∗∗O2電漿具有氧化性，可能對探針或光學視窗造成腐蝕或污染。4.∗∗低氣壓(3mTorr)：∗∗雖然是低氣壓，但對於離子而言仍是碰撞性環境，離子能量分佈會受碰撞影響。5.∗∗脈衝電源：∗∗電漿參數（包括離子能量分佈）可能隨脈衝變化，需要具備時間解析度的量測能力。∗∗量測方法分析：∗∗∗∗A.破壞性量測(DestructiveMeasurement)∗∗這類方法需要將量測裝置插入到電漿中，會對電漿狀態產生一定程度的擾動，且裝置表面容易受到濺射沉積物的污染。1.∗∗探針式離子能量分析儀(Probe−basedRetardingFieldEnergyAnalyzer,RFEA)或結合質譜儀的探針(Probe−basedMassSpectrometer/EnergyAnalyzer):∗∗∗∗∗作法：∗∗∗將一個帶有小孔（或多個小孔）的探針頭插入到電漿中。探針內部通常包含多個柵極電極，用於過濾電子並對離子施加反向偏壓，分析不同能量的離子數量。∗為了區分Ar^+$和O$_2^+，探針需要結合質量分析器，最常見的是四極質譜儀(QuadrupoleMassSpectrometer,QMS)或飛行時間質譜儀(Time−of−FlightMassSpectrometer,TOF−MS)。探針頭作為取樣點，將離子引導至質譜儀進行質量篩選和能量分析。∗透過在不同位置移動探針，可以量測離子能量分佈的空間變化。∗∗∗量測能力：∗∗可以直接量測特定位置處Ar^+$和O$_2^+的離子能量分佈函數(IEDF)。離子溫度可以從IEDF的高能尾部或通過擬合麥克斯韋分佈來估算，但需注意磁控電漿的IEDF通常是非麥克斯韋分佈的。量測位置決定了空間分佈的獲取。∗∗∗優點：∗∗可以獲得種別特異性(species−specific)的離子能量分佈，是直接量測離子能量的最佳方法。∗∗∗缺點與挑戰：∗∗∗∗∗物理擾動：∗∗探針的插入會顯著擾動電漿，特別是在靶材附近的高密度區域。∗∗∗沉積污染：∗∗濺射沉積物會在探針表面（特別是取樣孔）累積，影響量測準確性，需要定期清潔或更換探針。∗∗∗熱負載：∗∗高密度電漿可能對探針造成較大的熱負載。∗∗∗空間限制：∗∗靶材尺寸大且貼壁安裝，很難在靶材表面附近進行全面的探針掃描。可能只能在離靶材一定距離或腔體邊緣處量測。∗∗∗脈衝同步：∗∗需要量測設備與脈衝電源同步，以獲取時間分辨的IEDF。∗∗∗O2腐蝕：∗∗O2電漿可能腐蝕探針材料。∗∗B.非破壞性量測(Non−destructiveMeasurement)∗∗這類方法不將量測裝置插入電漿內部，通常通過光學或從腔壁取樣的方式進行。1.∗∗光學發射光譜儀(OpticalEmissionSpectroscopy,OES)：∗∗∗∗∗作法：∗∗∗通過腔體側面的光學視窗收集電漿發出的光。∗使用光譜儀分析光的波長和強度。Ar^+$和O$_2^+$都有特徵的發射譜線。 * 通過狹縫或光纖探頭在不同位置採集光信號，或使用具有空間解析度的成像光譜儀，可以獲取發射強度的空間分佈，間接反映激發態離子密度的分佈。 * 離子溫度估算： 可以通過量測特定離子發射譜線的多普勒展寬 (Doppler Broadening) 來估算離子溫度。然而，這需要高解析度的光譜儀，並且要排除其他展寬機制（如斯塔克展寬、壓力展寬、儀器展寬）的影響，特別是對於分子離子O$_2^+$，其譜線可能更複雜。 * 量測能力： 可以識別電漿中的發光物種（包括離子），獲得激發態離子的相對空間分佈。可以嘗試利用多普勒展寬估算離子溫度，但準確性可能不高。 * 優點： 非侵入性，對電漿擾動小；設備相對常見。可以快速獲取大範圍的空間分佈信息（如果結合掃描或成像）。…
